產(chǎn)品介紹

NIST SRM2944 熒光光譜的相對強度校正（標準品）旨在用于評估和校準具有連續(xù)激發(fā)源的穩(wěn)態(tài)熒光光譜儀的相對光譜響應(yīng)度，并用于確定日常或儀器到儀器的強度變化單個或類似的熒光儀器， SRM 2944 的一個單元由一塊比色杯形的實心玻璃組成。樣品系列裝置的序列號介于 Bi0XX 和 Bi0YY 之間。該 SRM 已通過相對校正發(fā)射光譜 E 的認證，以相對能量單位表示，發(fā)射波長 λEM = 530 nm 至 830 nm，波長間隔為 1 nm，固定激發(fā)波長 (λEX) 為 515.0 nm。由于峰值附近較大的信噪比水平，發(fā)射

推薦從 λEM = 590 nm 到 805 nm 的范圍作為大多數(shù)儀器和應(yīng)用的最佳選擇。請注意，本標準的認證值在用于脈沖光源熒光光譜儀的光譜校正時成為參考值。

認證值：

NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已調(diào)查或考慮在內(nèi) [1]。每個發(fā)射波長的 E 和相應(yīng)總不確定度在 95 % 置信水平 U95 下的認證值在表 1 和表 2. E 的計量溯源性是 NIST 光譜輻射度標度，以相對能量單位表示。波長的計量溯源性為米的 SI 單位。

NIST SRM2944 熒光光譜的相對強度校正（標準品）的定位應(yīng)使激發(fā)光束垂直并居中在一個拋光面上，并從與激發(fā)光束成 90 度角的相鄰拋光面收集發(fā)射。長磨砂面應(yīng)背對檢測系統(tǒng)。每個 SRM 的頂面都刻有自己的序列號，使用時應(yīng)朝上。磨砂面可以與正面或落射熒光幾何形狀一起使用，或者拋光面可以與上述不同的幾何形狀一起使用，但是在這些情況下，認證值將成為參考值。表 1 和表 2 中的值在 25.0 °C ± 0.5 °C 下經(jīng)過認證，激發(fā)帶寬 (ΔλEX) 為 3.0 nm，發(fā)射帶寬 (ΔλEM) 為 3.0 nm。